新生兒腦發育不良的診斷方法是什么?由于嬰幼兒期的精神和身體發育速度存在著個體差異，故除參考正常兒童發育標準外，還需結合詳細的養育史和家庭環境，社會環境等因素，進行綜合判斷。那么，新生兒腦發育不良的診斷方法是什么?以下就是我們的小編針對腦發育不良的診斷方法給大家進行詳細介紹。
新生兒腦發育不良的診斷方法是什么?
1、CT、MRI掃描：根據病變處密度增高這一現象，CT、MRI掃描可掃描出各層次具體的內部結構和腦組織的不同圖像，進而進行診斷有無腦發育不全。
2、X射線頭顱平片：為腦發育不全的診斷提供顱壓增高及定位的證據。
3、超聲波診斷：中線波向健側移位。通過觀察B超斷層現象判斷占位病變位置的大小，這也是腦發育不全的先進診斷方法。
4、放射性同位素腦掃描，可見同位素濃集現象。
5、檢查有無淺表淋巴結腫大，并結合病史，進行具體神經系統診斷。
以上就是關于腦發育不良的診斷方法給大家的詳細介紹了，相信大家對此已經有所了解了，希望能夠給您帶來幫助。